Kamera inspekcyjna PCE-LCM 50, zoom 8,1 ... 32,4 x

Obsługa idzie tu przez zwykłą mysz komputerową — kursor prowadzi po menu, a jedno kliknięcie zapisuje powiększony kadr na karcie micro SD. Zoom optyczny 8,1 ... 32,4 x, wspierany cyfrowym 1 ... 10 x, wystarcza do oceny styków, spoin lutowniczych czy krawędzi tnących, a przetwornik 1/3 cala o wielkości piksela 2,75 x 2,75 µm i płynności 30 klatek na sekundę trzyma obraz czytelnym również w ruchu. Oświetlenie działa dwutorowo: pierścień 21 diod świeci na próbkę od góry, a 7 diod w podstawie prześwietla ją od spodu; obie sekcje mają po 5 stopni jasności, więc detal na błyszczącym metalu da się wyciągnąć bez prześwietlenia kadru.

Ekran 1024 x 600 jest wbudowany, komputer nie jest do pracy potrzebny — łącze USB 2.0 służy do przeniesienia gotowych plików. Odległość robocza 90,5 mm i prześwit do 4 cm porządkują ustawianie próbki, a masa 2,3 kg trzyma stanowisko stabilnie. Wyposażenie stanowiska idzie w parze z optyką: dwa wymienne blaty — kontrastowy czarno-biały i przezroczysty — zmieniają tło pod próbką, a to często przesądza o tym, czy krawędź w ogóle widać. Przezroczysty służy przy oświetleniu przechodzącym, czarno-biały przy detalu, który trzeba odciąć od tła. Osłona i folia ochronna zabezpieczają optykę oraz ekran przed pyłem i opiłkami, co przy stanowisku obok obrabiarki znaczy więcej niż sama rozdzielczość obrazu.

Balans bieli ustawia się automatycznie albo jednym klawiszem po położeniu wzorca — barwa kadru przestaje wtedy zależeć od oświetlenia hali, dzięki czemu zdjęcia z różnych dni dają się porównywać. Materiał zapisuje się na karcie micro SD, a łącze USB 2.0 przenosi gotowe pliki do komputera, gdy trzeba dołączyć je do raportu z kontroli. Ograniczenia warto znać zawczasu: producent podaje warunki pracy -5 ... 40 °C przy wilgotności 45 ... 85 %, wysokość badanego przedmiotu nie może przekroczyć 4 cm, a odległość robocza wynosi 90,5 mm. Obudowa 300 x 225 x 270 mm zajmuje róg blatu i zasila się z sieci 100 ... 240 V, więc nie jest to sprzęt do pracy w terenie — to stanowisko stałe, do którego próbka przyjeżdża, a nie odwrotnie.